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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > HORIBA（理科學(xué)） > X射線熒光光譜儀 > XGT-7200X射線分析顯微鏡
簡要描述：一代的X射線熒光分析顯微鏡XGT-7000開創(chuàng)了科學(xué)分析的新時代。它將光學(xué)圖像與元素分析*地結(jié)合，為科研工作者的研究和分析提供了新的分析手段。 SDD檢測器保證了高速、高精度元素面掃描；高能量分辨率，高計(jì)數(shù)率的測量，且無需液氮。 雙真空式設(shè)計(jì)確保用戶可以在幾秒鐘內(nèi)完成樣品室內(nèi)部氛圍的切換（大氣或真空）。即使測量含水樣品、生物樣品時也可以保證測量所有元素的高靈敏
產(chǎn)品型號：XGT-7200廠商性質(zhì)：代理商更新時間：2023-07-26訪 問 量：668產(chǎn)品分類
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詳細(xì)介紹
XGT-7200技術(shù)參數(shù)
測量元素：Na~U
X射線管：銠（Rh）靶 /管電壓 50 kV / 管電流 1 mA
X射線熒光檢測器：SDD硅漂移檢測器
透過X射線檢測器：NaI（Ti）晶體
X射線導(dǎo)管：單毛細(xì)管 10μm / 100μm 無濾光片
光學(xué)圖像：樣品整體光學(xué)像及共軸放大圖像
樣品臺尺寸：XY：100mm×100mm
樣品倉：全真空模式/ zui大真空 300mm×300mm×80mm
信號處理：數(shù)值脈沖處理器（INCA處理器 ）
定性分析：自動定義譜峰/ KLM線標(biāo)注/ 譜峰查找/ 譜峰匹配
定量分析：無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)無標(biāo)樣基本參數(shù)法/ 標(biāo)準(zhǔn)文件匹配基本參數(shù)法/ 校正曲線/ 多層膜基本參數(shù)法/ 多點(diǎn)分析（zui多5000）/ 多點(diǎn)結(jié)果輸出至Excel®
面掃描功能：透過X射線像/ 元素面分布圖/ 譜圖面掃描 /矩形面掃描/ 生成譜圖/ RGB合成/ 標(biāo)尺/ 線分析
其它功能：可同時開啟XGT-5200操作軟件
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